KLMAG4FE3B-A001 (X-RAY TEST) 분석 결과
페이지 정보
작성자 edwinsemi
조회Hit 41회 작성일Date 25-09-03 15:45
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본문
부품정보
부품명 KLMAG4FE3B-A001
제조사 Samsung
제조년월차 0839
검사수량 40
의뢰내용
1. 정품확인
검사 항목
외관검사 칩마킹, 기판, BGA Ball
검사 결과
외관검사
블랙토핑 검출됨
기판 스크레치 / 손상
BGA 볼 손상
위조 칩마킹
판정
위조품
부품명 KLMAG4FE3B-A001
제조사 Samsung
제조년월차 0839
검사수량 40
의뢰내용
1. 정품확인
검사 항목
외관검사 칩마킹, 기판, BGA Ball
검사 결과
외관검사
블랙토핑 검출됨
기판 스크레치 / 손상
BGA 볼 손상
위조 칩마킹
판정
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