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EDWINSEMI Co., Ltd.
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    QC 프로그램

    KSZ8995XA 2차 (X-RAY TEST) 분석 결과

    페이지 정보

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    작성자 edwinsemi
    조회Hit 81회   작성일Date 25-09-03 15:51

    본문

    부품정보

    부품명 KSZ8995XA
    제조사 Micrel
    제조년월차 0615
    검사수량 462

    의뢰내용

    1. 진위판정

    검사 항목

    외관검사 칩마킹, IC 다리

    검사 결과

    외관검사
    블랙토핑 검출됨
    위조 칩마킹
    재도금된 IC 다리
    판정
    위조품

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